ICT测试是MLB生产中一项非常重要的测试,它会测试包括板子的短路,开路,电子元器件参数值,某些电路电压,IC某些引进阻抗等等内容,并且也会进行部分的上电检测,设定一些输入条件,检测能否得到需要的输出来鉴别功能的好坏。
可以说如果一块MLB主板的ICT测试没有问题,那板子基本电路方面就没有多大问题(IC功能异常情况除外)。
所以如果一片ICT不良fail的主板,要如何去对它进行一个FA分析呢?
1,查看fail信息
这个fail信息可能是短路,开路,某些元器件参数错误,或者直接定位到某个IC,首先需要查看fail信息,了解个大概。
2,目检相关电路主板位置
进行目检,很多ICT的fail是因为制程的问题,比如某些元器件贴歪,贴反或少锡,另外的就是因为烧焦烧坏,断裂破损等等,这些都是可以通过肉眼或显微镜目检观察出来的。所以目检的步骤不可缺少。
3,量测相关fail项的阻抗和RDV(一般会与好板阻抗进行对比)
当某个元器件出现了异常,势必会导致与这个元器件相关的电路阻抗,RDV发生变化,所以查看阻抗与RDV的值是ICT FA一个超级实用的步骤,当fail板与好板在某段电路的阻抗和RDV相差太大时,基本上就是有异常的,所以可以重点留意相关的元器件,进行更多的DOE验证。
前面三步是基本动作,是对于所有的fail类型几乎都会用到的动作,后面的FA步骤就是根据具体情况具体分析的FA动作了。
-查看是否有热点
如果是IC有异常,部分IC是会过热的,就会导致热点出现,这个时候可以使用热分析仪进行温度查看,一般出现温度异常的IC,温度会明显高于周边元器件,也就是出现了异常热点。
-相关power波形
电路主板,电压电流的流过才让整个电路主板盘活,所以某些电路出现了异常,就会导致板子出现异常,测量相关主电的供给,就可以验证哪一部分电路有问题。
-相关信号协议波形
信号的传输可能会遵循相关的协议标准,比如I2C,所以当信号波形出现异常时,就会在波形上有所显现,如果波形没有或者信号时序异常,都会在波形上有所体现。